Показано применение электронографии для исследования и контроля фазового состава и степени совершенства структуры поверхностных слоев и пленок. Изложены методы расчета, индицирования электронограмм, особенно расчеты, связанные с характеристикой кикучи-линий. Авторами разработана классификационная шкала электронограмм, устанавливающая связь между дифракционной картиной, полученной методом отражения, и реальной структурой поверхностных слоев и пленок.